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每当半导体产业界要预测未来，摩尔定律一直是个虽受时间磨损但总被提及的指标；但你可知道，其实在摩尔定律之外，还有许多SKC定律定律、哥达德定律以及莱特定律的其他类似定律？
最近美国麻省理工学院(MIT)针对以上定律在短期性与长期性预测方面的准确度做了一番评比，并表示他们的分析成果将改善未来有关技术演变、候选技术以及因应全球性变化之策略的预测准确度。
MIT发现，整体看来，长期性预测方面表现最佳的是莱特定律，其准确度可超越摩尔定律，因为其结构视野来自于产量(units-of-production)，而非绝对时间；举例来说，摩尔定律预测每18个月半导体元件电晶体密度将加倍，但莱特定律则预测，生产量数字增加，生产成本就会下降(无论其中花了多久时间)。
根据MIT研究，莱特定律──取航太工程师Theodore"T.P."Wright之名──能在长期性预测方面更具准确度的原因，是因为能自动适应经济成长率。
MIT以62种不同技术产品的实际成本以及产量等历史数据，包括电脑、通讯系统、太阳能电池、航空器与汽车…等等，代入莱特定律以及哥达德定律(认为进步只受经济规模的驱动)、SKC定律(是莱特定律与哥达德定律的结合)等其他定律，再利用历史数据可倒叙检视的特性来评比每种定律的精确度。
MIT对各种预测定律的评比结果显示，莱特定律在长期性预测方面的准确度表现最好
（来源：MIT）
MIT表示，其研究成果显示只要谨慎使用历史数据，未来技术的进展是可预测的，每年的典型精确度可达到约2.5%；该研究是由MIT教授JessikaTrancik、圣菲研究所(SantaFeInstitute)教授BelaNagy，牛津大学(UniversityofOxford)教授DoyneFarmer以及St.JohnOs学院教授QuanBu共同进行。
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