输入功率和RMS电流测量（一） 数据中心, 服务器, 工作量, 测量, 成本

Bazinga

引言
今天，包括离线电源真实输入功率和输入RMS电流测量在内的能耗实时测量，正变得愈加重要。这些测量可用于调节供电和优化能源利用。例如，安装有许多服务器的一些数据中心对服务器层辅助功耗测量就很感兴趣，因为这样可以实现低成本数据服务，并对低功耗工作期间的处理能力进行智能的管理。输入功率和电流的一般测量方法是使用一个专用功率计芯片和附加检测电路。尽管功率计芯片能够提供可接受的测量结果，但它大大增加了成本和设计工作量。本文为您介绍一种新颖、低成本且精确的输入功率和RMS电流测量解决方案。它使用现有的数字功率因数校正（PFC）控制芯片和硬件，以及简单的两点校准和优化数学计算。这样便可提供优异的测量精确度，并极大降低成本和减少工作量，同时不影响正常的PFC控制。

测量装置

图1显示了由一个数字控制器进行电源隔离控制的传统PFC装置。输入线路和中性点电压通过一个衰减网络检测，之后由两个单独的模数转换器 (ADC) 输入采样。电流信号经由一个分流器检测，然后被信号调节电路放大和滤波。之后，连接至一个ADC进行电流环路控制。由于输入电压和电流测量已经具备，因此可用它们来测量输入功率和RMS电流。一样的传统PFC装置用于这些测量，无需传统专用功率计芯片和附加检测电路。



电流测量与校准

电流检测信号调节电路（图1）一般由一个运算放大器和一个低通滤波器组成，目的是放大小检测信号和去除高频噪声。之后，通过一个ADC测量该信号，并以ADC计数报告。为了获得真实的电流值，需把ADC计数转换为以安培为单位的电流。ADC计数与安培的关系可由原理图推导得出；但是，组件容差可能会使测量精确度变得不可接受。因此，需要进行一次校准。

电路如图1所示，在任何时候，分流器的输入电流（单位毫安培）均为：




其中，ki为电流检测增益或者斜率，Ci为ADC转换输出（计数），而mi为电流检测偏移量。

直流（DC）输入恒定时，平均值等于瞬时值，因此方程式1仍然有效：




方程式2表明，DC电源可用于对电流测量电路进行校准。恒定DC电源用于PFC输入，先使用25%负载然后再75%负载进行测量。为了方便比较，使用一个电表对两种负载状态的实际输入电流进行基准测量。另外，读取对两种负载状态的ADC转换计数输出，以确定数字控制器的精确度。控制器使用下列数学关系。25%负载状态时：




75%负载状态时：




使用方程式3和4计算电流斜率和偏移量：




计算得到的ki和mi为小数，小于1，而PFC应用的大多数数字控制器均使用定点数学计算。
为了降低计算的化整误差和保持足够高的精确度，把这些小数值乘以2N，然后四舍五入为最为接近的整数。例如，如果PFC电路的电流检测增益和偏移量计算得到为ki= 1.59和mi= 229.04，则ki乘以28，然后四舍五入为407；mi乘以20。电流斜率和偏移量分别为：







其中，iin_slope=407，iin_slope_shift=8，iin_offset=229，而iin_offset_shift=0。

计算得到输入功率和RMS电流以后，如果ki和mi为倍数，则不要直接使用它们，你可以先使用iin_slope和iin_offset来做乘法运算。然后，使用iin_slope_shift和iin_offset_shift来转换结果。例如，不要使用y =ki×x + mi×z进行计算，而要使用下面的计算方法：




输入电压测量与校准

电压检测电路十分简单，它可以只是一个分压器，如图2所示。一般，会有一些箝制二极管来保护ADC引脚。由于二极管的反向漏电流影响ADC的测量精确度，因此应选择使用低反向漏电流的二极管。




任何时候，输入电压均为：




其中，kv为电压检测增益，Cv为ADC转换输出（计数），而mv则为电压检测偏移量。
Kv和mv的校准方法类似，都是对电流检测增益和偏移量进行校准。但是，一种更加简单的方法是只需根据原理图进行计算。由于没有了校准，因此分压器使用的电阻会影响测量精确度。我们推荐把低容差电阻器用作分压器，例如：0.1%容差。

一个12位ADC和2.5V基准电压的数字控制器，输入电压被分压器衰减至2.5V以下。这样，经过衰减的信号被ADC转换为数字信号。因此：




重写方程式8之后，输入电压为：




因此：




以及：




与输入电流测量类似，需要对电压检测增益和偏移量进行一些操作，以使其适应定点微处理器，并降低计算误差。

VIN和IIN相互关系

真实输入功率定义为：




使用离散格式后，其定义为：




其中，N为总采样数。方程式13表明，需同时对VIN和IIN采样。但是，VIN和IIN却是由两个不同的ADC通道在不同时间采样。即使是很小的时间差，也会引起测量误差。在一些数字控制器中，例如：TI UCD3138等，具有一种被称作“双采样保持”的机制，其允许两种通道同时采样，从而消除了这种误差。