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| 射频采样ADC的FPGA接口 经历做了一个3.2G采样率ADC的FPGA接口。ADC通过FMC接到母板上的K7 410T芯片，LVDS电平标准。 做了这个项目后，有些感触。 从FPGA角度来看，FPGA需要设计一个DDR模式、数据率为400M的接口，且由于信号线比较多，已经跨BANK(换句话说，信号比较多，一个BANK不能提供足够多的LVDS引脚，需要2个BANK)。 从这些数据可以看到，data的valid window 理论值仅有1.25ns。这是一个很具备挑战性的设计。 我想从两点来谈这个高速ADC的接口。1.要想实现最佳的DATA/CLOCK 时序关系，FPGA应采用什么样的方案，去调整ADC的随路时钟的相位。 IDELAY 还是 MMCM？ 这二者之间的优缺点：1.MMCM的输入是ADC的输入时钟，动态调整其输出而获得最佳的DATA/CLOCK 时序关系 其优点是MMCM输出的钟质量要比IDELAY的方案要高，Jitter要稍小一些。 这是因为IDELAY的输出钟，每经过一级TAP就会给输出钟叠加一定量的jitter， TAP越多，jitter就越明显。 注：我的这里提到的IDELAY方案，是使用IDELAY去延时ADC的随路时钟，而不是与延时 ADC的数据。为什么不延时数据，这是因为延时数据，对数据引入的jitter要比延时 时钟引入的jitter要大的多，且延时数据使用的IDELAY数量更多，引入的FPGA功耗也要大。 2.MMCM方案有一个很大很大的弊端。每次上电后，MMCM对ADC的随路时钟锁相的相位出现随机现象。 这就造成了IDDR输出存在数据会随机出现180度相位翻转问题。 比如说，LVDS串行进入FPGA的数据顺序是A,B,C,D,E,F 经过IDDR后，有两种可能是输出：IDDR的D1，出现数据顺序是A,C,E; IDDR的D2，出现数据顺序是B,D,F; 另外一种可能的输出是：IDDR的D1，出现数据顺序是B,D,F; IDDR的D1，出现数据顺序是A,C,E; 针对这个现象我反复进行了严酷的测试：1.反复通断ADC的参考时钟，50次。出现的概率约30%。 2.反复加载FPGA程序， 50次。出现的概率约40%。 这说明，如果是DDR模式的数据，MMCM的方案慎用。 如果是SDR模式的数据，比如说其数据率在800M，那么这个MMCM方案是优先选取的方案。 3.IDELAY方案要比MMCM方案要灵活一些。 我们都在知道，找最佳DATA/CLOCK 时序关系，就是动态调整IDDR的采样时钟。一般的做法都是 找出DATA的valid window的低端沿，再找出valid window的高端沿。得到这两个条件的相移次数。 这两个相移数，相加再除2就是数据的最佳采样时候。这一点我是在做DDR2/3的时候学会的。 计算出最佳采样点后，IDELAY 可以使用load这个信号，直接将所需的TAP值写入到IDELAY中。 MMCM就没有这样一个port.因此如果使用自动调整随路时钟相位时，相应的FPGA的状态机要复杂一些。 2.第二点就是在选定上述方案后，在板上测试获得的最佳DATA/CLOCK 时序关系 如何才具备高可信度？ 谈到这个话题，这是我偶然发现的。我采样的是自适应的方法，写一个状态机每次上电后，自动调整IDELAY的TAP，获取TAP最佳值。 我的FPGA代码，只有这个ADC接口代码时，假设获得的DATA的valid window的高、低端沿及其最佳TAP位置的 区间分别是 是[2,5],[14,19],[8,12]. 换一种方式来给大家解释：如果数据用眼图表示的话，其眼宽还是比较大的，大约是2到19Z这么宽。 整个FPGA代码集成完毕后，再测试。发现数据眼图变差了，严宽变的很小了。 就是因为这个发现，我想清楚了很多很多FPGA深层次的内容。就其中一小部分，拿出来跟大家交流一下。 我们都知道，FPGA的使用的资源越多，其对电源系统的负载就越大，电源系统的电源纹波就越大。那么Vcco和Vint的电源质量就越差 电源系统的噪声都以一定程度的转移到数据和BUFG输出的钟上，给数据和钟都造成了不同程度的恶化。 记得之前看过一个图，讲的是电源的噪声，以一定的规律，呈现出一定关系，转移为xilinx transceiver的jitter上。在某一个频率处有一 拐点。超过这个拐点，电源上的噪声，急剧对gtp/gtx等transceiver的眼图恶化有很多的贡献量。 因此，大家记得等你的FPGA代码都准备好的话，再需要重新测试一遍。 为什么我要专门提出这个现象。因为高速ADC的钟都是在400M以上，这个频率对自动调整最佳DATA/CLOCK关系的状态机的时序收敛是很难的。 有的时候我们使用IDELAY，再获得最佳最可信的DATA/CLOCK关系后，采用FIXED 的模式。这就需要实测一下，确定哪个需要延迟多大才最可靠。因为我们的产品是要做军品方面的高低温试验的哦。高低温试验能经受的住的话，你的设计水平就更上一层楼了。 最后一点，我尝试将ADC的DDR模式速率设置为500m,这意味着，数据率实际频率达到了1Ghz,Valid windonw 达到了令人恐怖的1ns !!!!! 我的设计运行正常。羡慕吧。。。。 吼吼。。。 从这个设计来看，不得不说，XILINX的FPGA还是蛮不错的。赞一个。 如果大家对这些东西感兴趣，可以通过，电子创新网或安富利 联系到我。 |
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