在近日所举行的SPIE先进光刻技术会议上，Luminescent Technologies公司宣布了其最近的研究成果：已将反向光刻技术应用于45纳米和32纳米芯片中。Luminescent Technologies公司表示，反向光刻技术可以解决45纳米工艺中单层和扩散层的线端缩短问题。制造商都试图将其干式步进光刻机扩展到45纳米节点，因此推迟了向沉浸式光刻技术的转变。 在现有的光学临近修正(OPC)技术下，由于线端缩短问题，单层和活性层等重要层的印刷难度极大。单层印刷尤其复杂，因为线端空间太小，OPC几乎无法纠正问题。而Luminescent Technologies公司表示，反向光刻技术就可以以适当的处理窗口轻松印刷45纳米单层和扩散层。 而且，对焦深度(DOF)改进了至少100纳米，比传统的方法改进了30％多。这一进步意味着掩膜的可生产性。如果采用传统的OPC方法，最好的对焦深度也不到300纳米，留下的处理空间非常之小。 反向光刻技术带来的对焦深度的改进，扩大了处理空间，让厂商可以采用带有现有CD控制的光罩来继续推进生产 | 
