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TMS320C6701在电离层垂直探测系统中的应用
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yangkehan
发表于 2013-1-30 14:15
|
只看该作者
谢谢楼主的分享,了解了!在电离层垂直探测中可以使用
电离室巡检仪
,它可测量高于4 MeV的α射线,高于100 keV的β射线,以及高于7 keV的γ和X射线。
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TLP291
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TLP291
发表于 2013-2-28 12:00
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