前言
STM32全系列产品都具有CRC外设，对CRC的计算提供硬件支持，为应用程序节省了代码空间。CRC校验值可以用于数据传输中的数据正确性的验证，也可用于数据存储时的完整性检查。在IEC60335中，也接受通过CRC校验对FLASH的完整性进行检查。在对FLASH完整性检查的应用中，需要事先计算出整个FLASH的CRC校验值（不包括最后保存CRC值的字节），放在FLASH的末尾。在程序启动或者运行的过程中重新用同样的方法计算整个FLASH的CRC校验值，然后与保存在FLASH末尾的CRC值进行比较。
EWARM从v5.5版本之后开始支持STM32芯片的CRC计算。前面所说的计算整个FLASH的CRC校验值并保存在FLASH末尾的过程，可以在IAR中完成。通过配置EWARM的CRC计算参数，自动对整个FLASH空间进行CRC计算，并将计算结果放到FLASH的末尾。本文中将介绍的就是如何配置IAR的CRC参数，使之与STM32的CRC硬件模块保持一致。本文中的例子都基于STM32F072进行。
STM32的CRC外设
CRC校验值的计算采用多项式除法，可以通过除数和被除数进行异或运算实现。这种方法非常适合通过硬件电路来实现。
使用STM32CRC外设时，你要考虑的内容包括：采用哪个CRC生成多项式，输入数据（要进行校验的数据）和初始值。
1.生成多项式
默认使用CRC32多项式：0x4C11DB7
部分芯片支持可编程的多项式，比如STM32F3，STM32F0，STM32L0
2.初始值
STM32的CRC初始值默认为0xFFFFFFFF，STM32F3，STM32F0，STM32L0系列可以修改初始值
3.输入/输出数据的反转
STM32F3，STM32F0，STM32L0系列还提供了对输入/输出数据进行反转的功能。
默认不对输入数据和输出数据进行位反转
· 对输入数据的位反转操作可以设置为按字节/半字 /字为单元进行操作。例如输入数据为0x1A2B3C4D,
o 每个字节内逐位反转，结果是0x58D43CB2
o 每半字内逐位反转，结果是0xD458B23C
o 每个字长内逐位反转，结果是0xB23CD458
· 对输出数据的位反转。
o 例如输出数据为0x11223344,反转后为0x22CC4488
IAR的CRC配置
1.修改Link文件
指定checksum在FLASH中的存储位置，在Link文件中增加下面语句。
该语句指定将CRC的值放在FLASH的末尾位置。是整个FLASH空间的末尾，不是应用程序的代码末尾。这样，CRC值的位置就是固定的。不会随代码大小而变化。
2.配置Checksum页面的参数
IAR Checksum页说明（v6.4及以上）
IAR的checksum页面分为两个部分。
第一部分，也就是红线圈出的部分。定义了FLASH中需要计算CRC的范围和空闲字节填充值。
剩下的部分，就是对checksum计算参数的设定部分。
Checksum size ：选择checksum的大小（字节数）
Alignment：指定checksum的对齐方式。不填的话默认2字节对齐。 Algorithm：选择checksum的算法
Complement：是否需要进行补码计算。选择“Asis”就是不进行补码计算。
Bit order：位输出的顺序。MSB first，每个字节的高位在前。LSB first，每个字节的低位在前。
Reverse byte order within word： 对于输入数据，在一个字内反转各个字节的顺序。
Initial value： checksum计算的初始化值
Checksum unit size ：选择进行迭代的单元大小，按8-bit，16-bit还是32-bit进行迭代。
3.STM32 CRC外设使用默认配置时IAR的配置
STM32CRC外设的配置：
POLY= 0x4C11DB7（CRC32）
Initial_Crc = 0Xffffffff
输入/输出数据不反转
输入数据：0x08000000~0x0801FFFB。(最后4个字节用来放计算出的CRC值) | 
