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求hp3070高手帮助

看看手册不就结了,没什么复杂的吧?
这是一个对晶振的加电测试,像这样的测试还用在对FET,三极管的测试, 例如:
subtest "On"
   source dcv, am 5.0, on
   detector dcv, expect 0
   measure 0.5,-0.5
   end subtest

   subtest "Off"
   source dcv, am 0.0, on
   detector dcv, expect 1.3
   measure 1.3*1.1,1.3*0.9
   end subtest
上面就是一个对FET "on '' and ''off'' 测试。

如不明白,请继续问
多谢斑竹,我也知道大概的程序原理,就threshold参数不大明白,我们有个料,在threshold 2.4 就可以测到晶振的输出,可是在threshold 2.5就不行了。
还有个问题,就拿你的程序说,如果在source dcv, am5.0, on下,fail了,可我改成source dcv,am5.2, on 就pass了,你说这是什么原因。
一般是不会去修改am的,建议加延时, 或者将它从analog function test移到power test.
不大明白,为什么不能修改am
你可以check几个上电部分,他中间最大电流就是5.0,

求hp3070高手帮助

求助:谁知道这段程序什么意思
source dcv, am3.3, ico0, on
detector dcv, expect 60M, threshold 2.4
另外
如何判断程序有问题.
多谢,多谢。
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