以下是引用康桥人在2008-7-8 10:40:00的发言: 可以试试用两个通道同时进行,一个负责高频一个负责低频,高频可以用脉冲累计,低频用输入捕捉. 呵呵,谢谢版主,我用xep100-144pin的资源已经很紧张了,在高频通道这个误差我们暂时觉得影响不是很大,在产品应用中的影响还要等A样件试验以后才能进一步评估。 还有个问题请教一下版主,我的擦除flash的代码中,用0x0a命令擦除sector,在寄存器FSTAT中的MGSTAT1和MGSTAT0位是不是擦除不成功的时候置1,不需要单独再用“Erase Verify P-flash section command”(0x03)来校验是否成功擦除。 在写FLASH命令(0X06)中这两位的作用是不是同样提示已经校验的结果,不用单独在做校验代码。
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