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本帖最后由 ceea 于 2012-10-11 18:32 编辑
电子可靠性设计、试验与故障分析-专题讲座培训
一、课程特点
加深学员对元器件的故障模式、影响及危害度分析，学习如何正确选择电子元器件，设计中掌握如何延长电子产品的使用寿命。课程通过大量的分析案例（多于60项）讲解和剖析，加深对产品设计可靠性的理解，掌握电子产品可靠性设计及失效分析、可靠性试验的技能和方法，全面提升设计人员的可靠性技术水平，解决实际产品设计存在的问题。
二、培训内容
(一)、电子产品可靠性设计技术及故障分析
1.可靠性设计和运用
2.可靠性设计的相关标准和实施步骤
3.电子元器件的故障模式、影响及危害度分析
（FMEA）和对策
4.整机设计规则
5.装配、生产工艺对产品可靠性的影响
(二)、电子产品可靠性试验技术
1.设计人员需要了解的可靠性知识
2.可靠性设计的评价
3.环境试验对产品缺陷暴露的作用
4.筛选与老化试验
5.抽样技术
6.常用失效分析与仪器；
三、时间地点 深圳 10月27日-28日
四、主讲专家
冯老师：从事可靠性研究工作30余年，对可靠性环境试验方法和可靠性环境试验设备有较深入的研究，期间“硅压力传感器综合评价技术研究”获国防科学技术工业委员会“国防科学技术二等奖”、“使用状态中元器件失效预测技术”获电子工业部“科学技术进步三等奖”。曾多次为培训机构和电子企业开设“可靠性设计、老化、筛选和环境试验”等课程，获得了非常好的效果和极高的评价。
详细培训内容请来电咨询！
联系人：王老师
电话：15811185126
Emai：1461072573@qq.com |
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