EDA环境衔接测量软件 电子产品开发周期大幅缩短（一） 电子产品, 测量, 开发, 软件, 工程

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消费性电子产品汰换周期越来越短，且功能复杂度不断提高，使得系统研发人员面临缩短产品开发时间的严峻挑战。所幸，现今自动化测试系统已开始导入开放式FPGA，将有助EDA开发环境与测量软件的整合，让工程师可同时进行系统设计与测试，加快研发时程。
　　目前测试工程师所面临的最大挑战之一，即是个人观念局限于目前的技术中而停滞不前，因此，本文特别提供技术趋势的相关知识，针对测试与测量产业，探讨足以影响整个产业的重要技术与方法。
　　设计与测试并行为大势所趋
　　对目前的研发单位来说，缩短产品开发周期几乎是首要任务，特别是汽车与航空产业。要缩短开发时间的方法之一，就是同时进行设计与测试，这样的产品开发模式常以“V-diagram”模型（图1）表示。这些产业的最终产品，往往形成高复杂度“系统中的系统”；而V-diagram左边为“设计”，右边则为“测试”，其背后的概念，就是在开发出完整系统之前，先初步测试、检验子系统以达更高效率。只要是需要高度监控环境的产业，就常见到如V-diagram 的同步设计/测试方法，而且目前已有其他类型的装置或产业逐步采用相关实例。以半导体和消费性电子产业为例，其“短暂的产品使用周期”与“不断提高的产品复杂度”特性，都是缩短产品开发时间的瓶颈。