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IBM科学家开创碳纳米管性能测量新方法

IBM科学家开创碳纳米管性能测量新方法

IBM科学家宣布他们对碳管内的电荷分布进行了测量,并发现其直径小于2纳米,这比人类的一缕头发细50,000倍。这项新颖的技术借助电子和声子交互作用为碳纳米管电学性能提供了一个详细的解释,与今天常规的硅晶体管相比,这一材料为更小、更快并且能耗更低的计算机芯片提供了基础。

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