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MCU的电磁兼容能力

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sampro发表于 2005-3-3 10:28 | 显示全部帖子
Freescale MCU的电快速瞬变(EFT/Burst)抗扰度测试绝对不会比日本的MCU差
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sampro发表于 2005-3-5 08:41 | 显示全部帖子
正如楼上所说的，EMC是整个系统的问题，涉及到PCB布局、布线、程序等方面。
在我的应用中（不是裸板，是成品）4000V的快速瞬变脉冲群试验是这样的：零线上、火线上、地线上分别加正、负4000V的脉冲干扰信号。参见：GB/T17626.4
Freescale的MCU没有任何问题，价格也不高


[此贴子已经被作者于2005-3-5 8:41:43编辑过]
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