首页 | 新闻 | 新品 | 文库 | 方案 | 视频 | 下载 | 商城 | 开发板 | 数据中心 | 座谈新版 | 培训 | 工具 | 博客 | 论坛 | 百科 | GEC | 活动 | 主题月 | 电子展
返回列表 回复 发帖

大家谈谈OSP板对测试的影响

中级会员

Rank: 3Rank: 3

UID
124673 
性别
男 
1#
unicon_ricky发表于 2005-11-3 22:32 | 显示全部帖子

针对LEAD-FREE,大家有没对策

那位对LEAD FREE对ICT的影响有研究,可否赐教
回复 引用

TOP

中级会员

Rank: 3Rank: 3

UID
124673 
性别
男 
2#
unicon_ricky发表于 2005-11-25 22:54 | 显示全部帖子
针对VIA HOLE 可试试3N弹力的INGUN  PROBE 的297头或者291头，
不过，INGUN正在推出改良的297头，相信对于VIA HOLE 效果会比较好
回复 引用

TOP

中级会员

Rank: 3Rank: 3

UID
124673 
性别
男 
3#
unicon_ricky发表于 2005-12-28 21:20 | 显示全部帖子

OSP 制程 不用担心，

试试INGU探针的E-TYPE 系列的291头型

E-100-291-090A3000

E-075-291-064A2000

E-050-291-050A2000

效果不错，现在我们做夹具针对 OSP 板 效果不错！

[此贴子已经被作者于2005-12-28 21:20:37编辑过]
回复 引用

TOP

返回列表