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一种全数字UPS逆变器锁相控制技术的研究

一种全数字UPS逆变器锁相控制技术的研究

 它是一个仅与器件尺寸有关,而与温度无关的常数。
  通过式(9)和式(10)可知,此电路可以产生一个与绝对温度成正比的电流。
  2 基准电压的设计
  对于一个工作在饱和区的二极管连接NMOS晶体管,如图4所示,它的Vgs=Vds流过它的饱和漏电流为:

  


  对于MOS管的阈值电压Vth,它的一阶近似表达式可以表示为:

  


  式中:Vth0为MOS管工作在绝对零度时的阈值电压;aVT为一个与温度无关的常数;T-T0为温度变化量。对于一个MOS管的迁移率μn:它的大小可以表示为:
  μn=μn0(T/T0)-m (19)
  式中:μn0为绝对温度时MOS管的迁移率值;T0为绝对零度;T为温度变化量;m为比例变化因子,它的典型值为1.5.
  令式(10)中I1为式(17)中的Id,即:I1=Id,将式(10)、式(18)和式(19)代人式(17)整理可得:

  


  从式(21)可看出,如果适当调节晶体管的宽长比W/L,使得зVgs/зT=0,即:

  


  便可以得到一个高精度、与温度无关的Vgs,即Vref=Vgs=Vds.此思想设计的具体实现电路如图5所示。

  


  对图5进行分析,NMOS晶体管M1和M2通过Vgs1和Vgs2产生漏电流Id1,再通过电流源M3和M7,使得它流入二极管连接的NMOS晶体管 M12,产生一个基准电压源Vref.在图5中,M3~M7五个晶体管尺寸相同,M1和M2晶体管的宽长比比例为1:m.式(21)中的W/L为图5中二极管连接M12管的宽长比。
  3 仿真结果与分析
  对图3PTAT产生电路进行仿真,可以得到图6仿真结果。

  


  从图6仿真结果可以看出,流过M1管的漏电流与绝对温度成正比,αI/αT△0.6.
  对图5基准电压源电路进行仿真,可得如图7所示结果。通过对图7分析可知,在25℃时,基准电压源的电压约为1.094.04 V,在整个温度范围(-40~80℃)内,其温度漂移系数为6.12 ppm/℃,满足高精度基准电压源的设计要求。

  


  4 结 语
  在此,基于SMIC 0.18μm CMOS工艺,采用一阶温度补偿作为基准电压补偿,提出一种新颖的PTAT电流产生电路结构,以对二极管连接的NMOS晶体管的阈值电压进行补偿,得到一个高精度基准电压源。该电路占用芯片面积小,精度高,可移植性强,非常适用于当今高精度的A/D,D/A和高精度运放偏置电路。此电路已成功应用于某款高速DAC芯片中。
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