基于AD9650的高速数据采集系统的设计方案 数据采集, 电子设备, 多普勒, 动态, 技术

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0 引言
随着数字信号处理技术的发展，越来越多的信号处理环节可以通过后端的软件处理完成，但这反而使得电子设备对前端数据采集系统的要求不断提高。因为后端软件的处理效果归根结底依赖于数据中所包含的信息量，只有提高数据采集的动态性能，才能保障后端处理的效果。长期以来，在数据采集领域，高速大动态范围ADC系统的设计与实现始终是研究的热点。当雷达工作在高杂波的电磁环境中，探测对象的RCS或多普勒信息非常微弱时，就对设计实现高速大动态范围数据采集系统提出了迫切的需求。
目前，国内对高速大动态范围ADC数据采集系统设计主要依赖于芯片的指标而缺乏系统的研究和总结。本设计旨在通过优化系统设计，结合动态性能优越的模数转换芯片，实现一个高速大动态范围数据采集系统。
1 系统性能指标要求
本系统需完成的主要功能为：雷达同步控制;中频数据采集，数字正交解调;信号预处理。同时为了降低便携设备的功耗，预处理器拟采用低功耗处理器。由于要求动态范围大，中频采集需采用高精度的数据采集芯片，设计为2个通道，要求单通道量化位数不小于14 b,有效位数不小于12 b,输入信号范围2 Vp-p,且满足低功耗要求。
2 关键技术
如何保证大动态范围是设计中的关键点，同时也是难点所在，设计中从如下几方面进行考虑。
2.1 ADC芯片的选型
为了获得高速度、大动态范围，数据采集系统对ADC 的速度和量化精度的要求越来越高，而ADC 的速度和量化精度与其结构紧密相关。
目前常用的高速ADC类型主要有快闪型和流水线型。快闪型ADC 由于采用了全并行结构，具有超高速、宽输入带宽的优点，但其硬件规模随分辨率的增加呈指数增长，分辨率一般为4~8位，且存在高功耗、高成本、“闪烁码”等问题，将它应用于数据采集系统将会造成分辨率低、成本高、能耗大等弊端。而流水线型ADC具有较高的分辨率，量化位数一般为12~16位，较高的采样速率，一般为1~250 MSPS.流水线型ADC 将ADC与DAC结合，采用多级流水结构，解决了快闪式ADC无法达到较高分辨率的缺点，同时兼顾了快闪式ADC 的转换速度。因此，本文选择流水线型结构的ADC 芯片来实现高速大动态范围数据采集系统设计。
本文选择了AD公司的AD9650系列芯片。AD9650是一款双通道、16位流水线结构模数转换器，为解决高频(最大300 MHz)、大动态范围信号的数字化而设计。
它具有集成ADC 采样保持输入、可选择片上Dither 模式、集成输入时钟1~8 分频等诸多特点。AD9650 输出信号模式可选择，默认输出为1.8 V CMOS,通过3线SPI接口，可配置工作模式，实现输出1.8 V电平的LVDS数字信号。它具有灵活的掉电选项、采用1.8 V单电压供电，提供了重要的节能特性。片上Dither选项能够提高低电平模拟输入的无杂散动态范围(Spurious Free Dy-namic Range,SFDR)。AD9650的主要性能指标见表1.


2.2 系统采样时钟性能
ADC 芯片受时钟控制进行采样，时钟质量对采样精度影响大，制约着系统所能达到的有效位。系统时钟主要性能指标包括时钟抖动和相位噪声。下面分别讨论两个指标对采样系统的影响。
时钟抖动表征了模拟输入实际采样时采样时间的不确定性。由于抖动会降低宽带ADC 的噪声性能，因此，ADC噪声性能的下降将反映出时钟抖动情况。与系统信噪比(Signal-to-Noise Rate,SNR)边界值(单位：
dB)之间存在的关系如式(1)所示：


式中：fanalog表示模拟输入频率;tjitter表示时钟抖动，整理公式(1)得：


ADC有效位数(Effect Number of Bit,ENOB)与SNR的关系：


由式(1)和式(3)可得系统有效位数与模拟输入频率及系统时钟抖动的关系图，如图1所示。


忽略其他因素，仅考虑时钟抖动对ADC性能的影响，由式(1)可知，若要对20 MHz的中频信号进行采样，同时保证74 dB以上的SNR,则要求时钟抖动最大为1.588 ps RMS.且ADC电路的时钟抖动(tjitter)与采样时钟抖动(tjitter_clk)和ADC器件自身孔径抖动(tjitter_adc)之间存在如下关系：


另外，采样时钟的相位噪声对ADC 性能有着重要影响。若采样过程用单位圆来表示，则每通过一次零相位，ADC 进行一次采样。采样时钟上的噪声将对相应矢量的顶点位置进行调制，从而改变发生过零的位置，造成采样过程提前或编码过程延迟。而采样时钟上的噪声矢量可能是相位噪声所导致的。如图2所示。


图2 中，理想情况下时钟信号应为单谱线。然而，受电源噪声、时钟抖动等因素影响，频域中存在大量能量分布在理想频率附近，代表相位噪声的能量。由于相位噪声往往可能扩展至极高频率，所以，它会使ADC的性能下降[6].采样过程实质是一个采样时钟与模拟输入信号的频域卷积过程，这个卷积过程在整个频谱域有效，同时在微观上也同样有效。因而，图2所示的时钟频率周围集中的相位噪声也将与模拟输入进行卷积，造成输出的数字信号频谱失真。
采样时钟相位噪声通常以单边带相位噪声来衡量，即：


由此可以计算出采样时钟相位噪声，作为系统设计的依据。