首页 | 新闻 | 新品 | 文库 | 方案 | 视频 | 下载 | 商城 | 开发板 | 数据中心 | 座谈新版 | 培训 | 工具 | 博客 | 论坛 | 百科 | GEC | 活动 | 主题月 | 电子展
返回列表 回复 发帖

对于XILINX器件的JTAG测试软件

对于XILINX器件的JTAG测试软件

www.bgascan.com/p1.html

基于边界扫描(Boundary Scan)的原理,

www.eaw.com.cn/Article_Print.asp?ArticleID=3689

这样就可以用来对一些密集型芯片进行连通性和状态测试。

返回列表