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USB接口静电预防的难题

USB接口静电预防的难题

当下我们对电子设备的依赖与日俱增,拿电脑来说,它已经成为我们日常生活中的一部分。我们使用的USB端口,比如键盘、鼠标。因为采用热插拔系统,极易受到由我们本身或者是空气放电造成的静电影响,造成USB集成电路故障,最糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。这是因为USB端口是我们本身在插拔USB外设时可能产生静电放电,损害USB接口,而这些损害和故障造成电子设备的"硬性损伤"或元器件损坏。


       现代电脑越来越多的采用低功率逻辑芯片,造成这些逻辑芯片对静电非常敏感。大多数USB集成电路都是以CMOS工艺为基础来设计和制造的,这就是为什么说,集成电路对静电极为敏感的原因。另外,静电对于元器件的硬性损伤,虽然我们可以很容易地更换失效的元器件并使系统重新纳入正轨,但是,假如发生了“软性损伤”(CMOS元件性能降级),此时系统会不断产生不规则的数据位,要花费数小时来进行故障排查,并且依靠重复测试也很难发现系统异常,因此对于USB元件的ESD防护已经迫在眉睫的难题。


      静电对于元器件造成的问题已经成为是众多重要难题之一。由于现电子产品体积小、密度大,在ESD 的防护上要有独到的设计特点。这就要求设计者,具备一定的静电知识,将静电难题有效的得到改善。静电的预防系统是一项艰巨的工程,只有不断的学习,才会在控制静电的道路上,将路铺向成功的殿堂。

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