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- UID
- 77415
- 性别
- 男
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刚找到的，同大家分享一下：
quality semiconductor的quick scan技术。
我见过的jtag是只能对内嵌jtag功能的期间进行测试，这个家伙很有新意。
它作了一个叫做QS3J309的设备。这个设备用来对数据总线进行JTAG的访问，对于系统而言是透明的。该设备由一个TAP(TEST ACCESS PORT)和它们的QUICK SWITCH设备组成。据说测试成本较低并且不会带来负面的影响。
在非BOUNDARY SCAN模式下，这些QUICK SWICT打开，允许数据进行透明的双向的传输。在BS模式下，扫描的数据可以被捕获或者传输上去。显然，如果用来监视总线是再好不过了。
同时，该QUICK SWITCH设备带来的延迟也是只有250ps.可见速度极高。
其最大的好处就是能对一些以前不能用JTAG访问的器件，也可以覆盖得了。具体方法就是在器件之间加入QUICK SCAN的设备。
如果设计好的PCB中因为没有JTAG的器件或有JTAG无法覆盖的路径，应该可以考虑这个啦。
我是得找他们联系一下：）
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