提高遥测信号处理器测试性的一种方法 处理器

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可测试性定义为：产品能及时准确地确定其状态，隔离其内部故障的设计特性，以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科，其发展和应用对于提高产品的质量，降低产品的全寿命周期费用具有重要意义。随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理，通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。