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定性测试电容器漏电的电路设计

定性测试电容器漏电的电路设计

本帖最后由 yuyang911220 于 2017-1-3 16:18 编辑

电解电容器时间用长后就会出现漏电现象,附图所示的电路能让你测试电容器的漏电,并且决定它们是否值得使用,你可以通过CREF/RREF的比值抑制泄漏。
          附图中的比值适用于从1纳法的陶瓷电容器到1000微法的电解电容器等所有电容器的通用测试。电路中CREF的数值与待测电容器CX的数值相近,你也可以通过一个旋转开关选择RREF,使其大于或小于22MΩ。
          工作原理
          当按钮开关合上时,电容器CREF和CX通过它们各自的PNP晶体管进行充电。当该开关断开时,电容器CREF和CX开始放电。假定CREF处在良好状态,它具有一个附加的放电外接电阻RREF,待测电容器CX通过其内部电阻放电。
          如果CX的放电比CREF通过RREF的放电快,此时其电压将下降较快,这样,运算放大器的同向端输入电压将比其反向端输入电压低,迫使运算放大器的输出变低,从而点亮红色发光二极管。该发光二极管指明待测电容器CX漏电,该测试电路表明甚至一个1纳法的陶瓷电容器都适应来比作参考,测试前请检查待测电容器CX的标称电压应比其待充电电压要高。
          运算放大器LF357具有10V的最小电源电压,本测试电路只选取6V电压是为了容许待测电容器CX一个低的上限电压。
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