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yurx发表于 2004-12-30 16:46 | 只看该作者

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请教:半导体器件的常见失效模式从外观和电路测试判断,及从电路内部判断,可分为哪些?
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albertburns发表于 2004-12-30 16:46 | 只看该作者
看看维修方面的书不就知道了？！
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