AT91SAM9261 功能描述

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1.1 测试引脚
一个专用引脚，TST，被用于定义设备操作模式。用户必须确保此引脚拉至低电平以确保正常操作。和此引脚关联的其他值为生产测试预留。
1.2 嵌入式电路内部仿真器(Embedded In-circuit Emulator)

ARM9EJ-S 嵌入式ICE-RTTM 通过ICE/JTAG 端口支持。它由一个ICE 接口连接到一个计算机主机。调试支持由一个内嵌在ARM926EJ-S 中的ARM9EJ-S 内核实现。        
       ARM926EJ-S 的内部状态由一个ICE/JTAG 端口检查，此端口允许指令在不通过外部数据总线的情况下被串行插入内核的流水线。因此，当在调试状态，一个批量存储（STM）可以被插入到指令流水线，这将可以导出ARM9EJ-S 寄存器的内容。此数据可以在不影响系统其余部分的情况下被串行移出。
       ARM9EJ-S 处理器内部有两条扫描链，扫描链支持测试，调试，和EmbeddedICE-RT 的编程。此扫描链被ICE/JTAG 控制。
       当 JTAGSEL 为低电平时，EmbeddedICE 模式被选择。直接在ICE 与JTAG 操作之间转换是不能实现的。在JTAGSEL 电平改变后必须进行芯片复位。
1.3 JTAG 信号描述
        TMS 是测试模式输入，此输入控制测试接口状态机器的转换。TDI 是测试数据输入，此输入提供数据到JTAG 寄存器（边界扫描寄存器，指令寄存器，或其他数据寄存器）。
        TDO 是测试数据输出，此输出被用作从JTAG 寄存器到控制测试设备串行的输出数据。它从边界扫描链（或其他JTAG 寄存器）传送采样值并传送采样值到串行测试电路中的下一个芯片。
        NTRST（在IEEE 标准1149.1 中为可选信号）是一个测试复位输入，此输入在ARM 内核是强制的并且用于复位调试逻辑。在Atmel 基于ARM926EJ-S 的内核中，NTRST 是一个上电复位输出。上电时有效。如果必要，用户还可以保持NTRST有效2.5 个MCK 周期来复位调试逻辑。
       TCK 是测试时钟输入，此输入使能测试接口。TCK 由控制测试的设备而不是被测试设备产生。它可以使用任何频率脉冲。注意，ARM926EJ-S 内核上最大的JTAG时钟速率是CPU 时钟的六分之一。在一个从32.768kHz 慢时钟运行的ARM9E上，最大的初始JTAG 时钟速率是5.45kHz。
       RTCK 是一个返回测试时钟。不是一个IEEE 标准1149.1 中的信号，这个信号被引入是为了使仿真器能更好的处理时钟。从一些ICE 接口探测，此返回信号可以被用于同步TCK时钟而不用担心ICE接口时钟和系统时钟之间需要遵守给定的六分之一比率。此信号仅在JTAG ICE 模式下可用，在边界扫描模式下不可用。
1.4 调试部件
        调试部件提供一个双引脚(DXRD 和TXRD) USART。此USART 可以被用于一些调试和跟踪目的，并提供一个现场(in-site)编程和调试监视通信的理想方案。此外，两个与通道关联的外设DMA 控制器使得这些任务包的处理时间减到最小。调试部件还管理COMMTX 和COMMRX 信号的中断处理，这些信号来于ICE 并用于跟踪调试通信通道的活动。调试部件可以阻止通过ICE 接口来访问系统。一个特定的寄存器，调试部件芯片ID 寄存器，给出了产品版本和其内部结构的信
息。
        AT91SAM9261 调试部件芯片ID 是一个32 位宽度的值：0x0197 03A0。

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