|
- UID
- 872339
|
关键字：半导体 电子设计 MCU 测试测量 EDN China
2014年，EDN China走过了20年的风雨历程！20年前，EDN China伴随着半导体行业的飞速发展应运而生，成为国内第一家关注中国电子设计领域的专业媒体，并开创性地引入了电子设计的概念。20年来，EDN China以其特有的以设计为核心、多信息来源、编辑采写的编辑风格，针对中国设计经理人和工程师的特殊需要，不断提供最先进的、最有深度的设计技术、应用文章及相关信息。并采用一套独特的整合方法，从印刷媒体到包括手机、微信与微博在内的数字新媒体，从在线论坛到网络和实地研讨会，从直邮到资源中心，其内容涵盖了整个半导体行业的所有核心技术和应用领域。与此同时，EDN China也在广大行业同仁和电子设计工程师的精心呵护下，不断开拓、不断成长、不断成熟。
20年后的今天，EDN China已成为中国电子设计开发业的主导刊物，是蜚声国内且具国际影响力的知名权威性专业期刊。值此20年之际，我们谨向广大的EDN China读者、行业同仁以及所有关心、爱护和支持EDN China的朋友们表示衷心的感谢！我们也向为EDN China做出贡献的前辈们表示衷心的感谢并致以深深的敬意！5月～9月，EDN China将以专题的形式对广大读者及设计工程师关注的最新产品和前沿技术进行深度报道，敬请期待！本期，EDN China为您呈现测试测量和MCU两个专题……
测试测量专题:
测试测量是整个电子行业不可分割的一部分，既古老又充满活力。测试测量仪器被广泛地应用于整个电子设备行业，涉及消费电子、通信、计算机、医疗、工业电子、汽车电子、电源电池、电力、环保、航天航空、教育等诸多领域。测试测量技术主要指的是常规/特殊信号参数的基本计量以及误差和测量结果的数据处理，具体包括电子示波器及测试技术、时间与频率测量技术、电压和电流测量技术、频域测量技术、电子元器件测量技术、数据域测量技术、虚拟仪器与LabVIEW编程技术、光纤通信常用仪表及测试技术。
近年来，随着人们对电子产品的质量要求越来越高，测试测量技术面临的挑战也越来越严峻。传统技术遇到了很多挑战，工程师越来越需要整体解决方案来帮助他们加快设计。如今，测试测量技术总体趋向于模块化、基于计算机、网络化(无线)、虚拟化、专业化、高集成和客户定制方向发展。在这些趋势下，测试测量技术正进入新一轮的发展期，迎来前所未有的成长机遇。
MCU专题:
MCU(Micro-Controller Unit)，即微控制器，又称单片机，是指随着大规模集成电路的出现及其发展，为实现为不同的应用场合做不同组合控制，将计算机的CPU、RAM、ROM、定时/计数器和多种I/O接口集成在一片芯片上，形成的芯片级的计算机。MCU出现的历史并不长，但发展十分迅猛。它的产生与发展和微处理器的产生与发展大体同步，自1971年美国Intel公司首先推出4位微处理器以来，它的发展到目前为止大致可分为3个阶段：SCM(单片微型计算机)阶段、MCU(微控制器)阶段和SoC (系统级芯片)阶段。
未来MCU将朝着低功耗、微型化、速度更快、性能更强、低噪声、高可靠、效率更高和寿命更长的方向发展。到目前为止，中国的MCU应用和嵌入式系统开发走过了二十余年的历程。随着嵌入式系统逐渐深入社会生活的各个方面，MCU也有从传统的8位处理器平台向32位高级RISC处理器平台转变的趋势，但8位机依然难以被取代。国民经济建设、军事及家用电器等各个领域，尤其是智能仪器仪表、机电一体化、实时工业控制、智能手机、智能便携式设备、汽车自动导航设备、智能玩具、智能家电、医疗设备等行业，将都是MCU发挥重要作用的领域。
|
|
