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ARM针对嵌入式软件分析发布RealView Profiler

ARM针对嵌入式软件分析发布RealView Profiler

独一无二的工具实现非侵入的,快速、无时长限制的软件分析
中国上海,2007年10月17日——ARM公司(伦敦证交所:ARM;纳斯达克:ARMHY)近日在美国加州圣克拉拉(Santa Clara)举行的ARM开发者大会上发布了RealView Profiler,这一独一无二的工具被专门设计用来实现对那些工作量从几分钟、几小时到几天的实际系统进行软件性能和代码覆盖的非侵入分析。通过这个工具,开发者们能将他们的应用程序性能显著提高20% 以上,同时将ROM的尺寸减少20%。RealView Profiler同样包括了对statement及分支代码覆盖的综合分析,使得软件测试达到100%的代码覆盖,以保证最高品质的软件验证。
RealView Profiler是对业界领先的ARM编译技术的有力补充,将使基于ARM处理器的设备性能提升到一个新高度。RealView Profiler基于完整的ARM调试及追踪架构,能够提供前所未有的对嵌入式系统软件性能的分析。从设计周期的早期到最后阶段,RealView Profile都能为性能分析提供支持,从而大大降低软件开发项目的风险。为了做到这一点,ARM RealView Profiler通过新型RealView Trace 2捕捉单元支持硬件模拟,还通过超快RealView实时系统模型提供虚拟平台模拟。
ARM系统设计部营销副总裁John Cornish表示:“消费电子市场需要越来越复杂的应用程序以提供丰富的媒体内容,这使得提高嵌入式软件的性能和质量势在必行。RealView Profiler支持对实际系统工作量的软件性能及代码覆盖的非侵入分析,同时它还提供了关键分析和热点信息。这使得开发者能够迅速优化代码的性能和覆盖,使其成为对量产级嵌入式软件进行测试和测量的理想工具。”
WAVECOM SA软件部总监Stéphane Baixas表示:“我们的客户希望尽量利用我们基于ARM的Wireless CPU?产品,并且希望获得最佳的实时响应及很高的计算性能。RealView Profiler将帮助我们找出代码中的瓶颈,从而改善我们的Open AT? 操作系统的性能。另外,因为有了代码覆盖功能,我们能够拓展我们的测试能力,确保我们的解决方案的质量及可靠性。”
RealView Profiler可作为业界领先的Eclipse 集成开发环境的插件,并且在该环境下提供通过以相似的外观和感觉来简化使用的图形用户界面。这极大地提高了通常具有挑战性的优化阶段的生产力。
技术信息
RealView Profiler能与RealView开发套件及GNU工具一起使用,提供性能及代码路径覆盖信息。RealView Profiler为已执行的机器指令和原始源代码提供信息。这对于广泛地将第三方软件融合入终端产品这一实践的成功具有重要意思,否则想要获到彻底的影响分析将十分困难。
RealView Profiler为基于ARM处理器的设备提供前所为有的性能和特性分析,包括CPU联锁信息、意外的指令延迟、代码效率及低层指令视图,并与软件开发者源的源代码相映射,同时提供性能信息注释。这使得软件开发者能够在最短时间内充分利用基于ARM处理器的设备的所有优势。
结合新型RealView Trace 2 单元所使用的独一无二的流分析技术,RealView Profiler能够提供硬件模拟。这实现了长时间、高频率(高达250MHz)的连续模拟。首次发布的RealView Profiler版本将支持ARM926EJ-S、ARM1136JF-S、ARM1176JZF-S及Cortex-R4 处理器,并将在接下来的几个月中支持更多的处理器。RealView Trace 2单元同样能以高达400MHz的频率支持典型的32位数据及指令追踪,从而可用ARM RealView Development Suite 实现高级追踪及调试。
通过加入四种RealView 实时系统模型(ARM926EJ-S、ARM1136JF-S、ARM1176JZF-S和Cortex-A8处理器),RealView Profiler还能在没有实际硬件的条件下提供模拟。这些模型能以超过200 MHz的频率在标准个人电脑平台上运行,并且能以低成本为开发团队所选用。
欲了解更对关于RealView Profiler 的信息,请访问以下网站:http://www.arm.com/realview/profile
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