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- 1029342
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- 男
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1.0引言 千兆采样速率ADC的ADC0 8 x x x x 系列（ 例如 ADC08D1500）内部集成了精密的自校准电路。这种特性是 此款器件在宽温度范围内显著性能中的重要部分。本文旨在 为系统设计师全面描述如何充分利用这种特性。器件的数据 手册包含了自校准在不同方面的详细内容，所以用户也可参 阅数据手册。
2.0自校准方案
由于校准对于表述的性能非常重要，因而在每次上电开始器件要执行自校准。此外，在需要的情况下还允许用户可通过手动命令来执行器件的自校准。一般仅当系统温度的变化已超出系统设计确立的阈值时才会执行这项操作。因为最 终还是器件本身的温度对其性能造成影响，用户可将芯片上 的二极管连到一个外置温度传感器，从而能.件温度。 美国国家半导体推荐LM95221(或其它类似产品)温度传感器 来实现这项功能。
无论是根据上电抑或是根据指令，校准程序约需1－2毫秒时间，具体取决于时钟频率和特定的器件（参考器件的数据手册和在本文中提到的所有其它参数）。此外，仅在上电时，器件会在启动自校准程序之前插入一个时延。对于这 一延迟，用户可选择相对较短（几十毫秒）或相对较长（几 秒）的延迟。这种延迟的目的是允许电源和其它的变量保持 稳定。注意，当器件配置为扩展控制的工作模式时无法提供 较长的时延（例如，通过串行接口配置）。同时也应注意器 件延时计数器，只有当时钟输入有效时才开始计数。
CalRun引脚总是指示器件是否处于自校准模式或正常工作模式。
3.0实施自校准
首先需要确认的是自校准是器件“正常”工作的组成部分。正因为此，在校准期间，器件的工作条件应尽量与“正常”系统条件相近并同样稳定。这意味着电源、温度和所有的输入值都必须在数据手册的“工作额定值”中标明的工作条件范围内，且保持稳定。
其次，为了得到较高的校准精度，操作条件必须尽量接近其工作条件。为了让这些条件保持稳定，有必要维持特定量的时延。系统工程师必须决定其系统所需的时延，其变化范围可从大约1-2秒变化至几十秒。如第二章中所述，器件具有内置校准时延的特性。如果需要更长的时延，采用CAL输入引脚可进一步延迟校准周期的启动。
具体实现的方法是，用户在上电期间将CAL引脚保持为高电平，并且按照时延的需要维持足够长的时间。器件保持等待状态，直到启动上电校准周期之前，CAL引脚会被周期性地从低电平加到高电平。在数据手册的交流电气特性表中可查阅CAL输入的“低-高周期”时序要求。除了抑制校准产生之外，这种方案不会干扰器件的其它特性。尽管用CAL输入并以这种方式实现延迟，我们仍应考虑，在得到合适的性能之前必须要作上电校准。
除了期望环境条件（电源和温度）保持稳定之外，器件的其它工作条件也需要保存恒定，以获得最精确的校准。这里提供了一些具体要求：
•时钟输入必须保持稳定（这包括不执行DCLK_RST);
•模拟输入必须在其有效*的范围内，但是频率并不重要－包括直流;
•当执行校准时，禁止干扰控制和配置设定;
•对于ADC 0 8 D 5 0 0 / 1 0 0 0 / 1 5 0 0 和ADC08500/1000/1500系列器件， 器件必须处于正常模式（ 非DES模式） 。在新推出的ADC08D1020/1520和ADC083000/B3000器件上，则不存在这样的限制;
•尽管SCLK可被激活，但禁止访问控制寄存器;
•当启动校准时器件不应处于关机模式，在校准时也禁止进入关机模式。
•在ADC083000和ADC08B3000器件上，当使用时钟相位调整功能并在使能这一功能后需要使RTD位保持设定位置，这样就可以使DCLK在校准期间保持运行。 |
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