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» 懂bsdl的来报道啦
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懂bsdl的来报道啦
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George
发表于 2003-11-4 16:05
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只看该作者
俺们单位可是光这一套测试jtag的设备就得人民币十好几个万。怎么就没人懂呢?
再提示一下:inter,infra, flash programming, EPLD programming.
其实就是通过tap口将板子联到pc,pc将信号再传给大板,这套东西比安捷伦3070要更适用于测试BGA.
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George
发表于 2003-11-5 15:37
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只看该作者
没问题
是你们自己开发的吗?应用到什么程度?
我和几个作jtag的公司联系过,都是能做infra 和 inter的测试。不能完全满足我们的需求。能不能详细提供一点你们单位的资料。
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George
发表于 2003-11-7 10:44
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只看该作者
是这个意思。但你的东西恐怕还不成熟。flash,和epld也是要考虑的。我不太懂底层的东西,应该是有一个通用应用程序,这样别的公司能够用它来自动生成自己的测试程序。你可以找别人一起合作。或者查一下jtag看别人是怎么作的。市场不要愁。
这些东西点到为止。再有疑问,给我发个短消息就行了
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weixiao@usisz.c
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weixiao@usisz.c
发表于 2003-11-12 16:18
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只看该作者
有谁懂Agilent公司的3070测试机的Boundary Scan?
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George
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George
发表于 2003-11-13 10:31
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只看该作者
3070的原理和jtag是不一样的,3070受限于插针不可能测量到BGA。而且3070的测试夹具又大有贵。
3070对非BGA片子的测试是没有问题的,jtag仅限于带有JTAG接口的IC.举例来说,3070可以测量某个电阻的通断,而对JTAG来说是不可能的。
但是,据jtag说,他们已经将jtag和3070连在了一起,很恐怖啊!agilent很意外的。
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weixiao@usisz.c
发表于 2003-11-13 10:38
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只看该作者
3070现在有了支持IEEE1149.1标准的Boundary Scan测试,也可以不受限于测试探针,只要几个有Boundary Scan的IC连在一起即可测试。
不知和JEAG有否不同?
如果JTAG已经和3070连在一起了,Agilent应该会公布的。
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andy.tu@mic.com
发表于 2003-12-16 19:03
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只看该作者
JTAG测试不能测试GND和VCCpin,所以,测试覆盖率还是很低,INTEL最新出现STT测试技术,用于P5的测试。
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George
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George
发表于 2003-12-16 20:03
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只看该作者
原闻其详,偶很想知道一些信息哦
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andy.tu@mic.com
发表于 2003-12-28 17:49
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只看该作者
现在P5的主板已经开始试产,INTEL开发了一快电路板取代CPU利用FET的原理在线测试.
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weixiao@usisz.c
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weixiao@usisz.c
发表于 2003-12-30 15:41
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只看该作者
我们公司明年年初也要开始试产P5,但不知STT是什么,“INTEL开发了一快电路板取代CPU利用FET的原理在线测试”也不是很明白?
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tuhui835
发表于 2004-3-8 11:35
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只看该作者
就是那块电路板上由很多小的FET组成,但好像也很贵,100美金一个。
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George
发表于 2004-3-27 16:21
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只看该作者
懂bsdl的来报道啦
bsdl
bsdl是以后测试的一个方向。
这个论坛里数字工程师很多,应该有所了解吧。
大家不是抱怨挣钱少吗?这就是一桶金啊
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zcc2000
发表于 2004-3-27 16:21
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只看该作者
请问各位dx,bsdl编写一个器件,用什么软件来编译仿真呢?
网上有没有免费的阿?谢了
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