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懂bsdl的来报道啦

有谁懂Agilent公司的3070测试机的Boundary Scan?
3070现在有了支持IEEE1149.1标准的Boundary Scan测试,也可以不受限于测试探针,只要几个有Boundary Scan的IC连在一起即可测试。
不知和JEAG有否不同?
如果JTAG已经和3070连在一起了,Agilent应该会公布的。
我们公司明年年初也要开始试产P5,但不知STT是什么,“INTEL开发了一快电路板取代CPU利用FET的原理在线测试”也不是很明白?
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