首页
|
新闻
|
新品
|
文库
|
方案
|
视频
|
下载
|
商城
|
开发板
|
数据中心
|
座谈新版
|
培训
|
工具
|
博客
|
论坛
|
百科
|
GEC
|
活动
|
主题月
|
电子展
注册
登录
论坛
博客
搜索
帮助
导航
默认风格
uchome
discuz6
GreenM
»
FPGA/CPLD可编程逻辑
» 数字测试仪下的参数测试单元的设计
返回列表
回复
发帖
发新话题
发布投票
发布悬赏
发布辩论
发布活动
发布视频
发布商品
数字测试仪下的参数测试单元的设计
发短消息
加为好友
yuchengze
当前离线
UID
1062083
帖子
5837
精华
0
积分
2921
阅读权限
70
在线时间
222 小时
注册时间
2016-6-30
最后登录
2018-9-9
金牌会员
UID
1062083
性别
男
1
#
打印
字体大小:
t
T
yuchengze
发表于 2016-8-23 12:15
|
只看该作者
数字测试仪下的参数测试单元的设计
集成电路
,
电子技术
,
稳定性
,
测试仪
,
测量仪
随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。 整个数字测试仪通常包含了五大部件:电源模块、通信模块、参数测量单元、数字测量单元和主控制模块。其中,参数测量单元和数字测量单元是整个数字测量仪的核心部件,参数测量单元直接决定着整个系统测试仪的模拟参数测量精度和应用范围。因此,设计出具备高精度、高速度的参数测量单元的数字测试仪具有很高挑战性。
本文提出了一种高速度高精度的参数测量单元。该单元应用于数字测试仪,具备16通道选通测试能力和可编程指令集,同时自带的PID循环验证和Kelvin四线连接技术可以有效提高整个模拟参数测量精度,使测量仪在低于50Ω的负载情况下仍能维持不超过千分之一的测试误差。
数字测试仪框架
数字测试仪框架如图1所示,采用Cyclone系列的FPGA作为主控制芯片。该芯片能够有效控制各种高速并行D/A、A /D进行测试;同时对大量的通道选通继电器、存储器阵列、数字信号采集芯片等进行准确控制。由图1可以看出,测试仪的模块很多,但需要指出的是模拟参数单元占到了整个面积和成本的三分之一以上,这也显示了参数测量单元的重要性。
图1 数字测试仪架构图
参数测试单元硬件设计
1 测试单元整体架构
参数测试单元如图2所示,总共包括了三大部分,第一部分参数测试通道主要由各种功能的通道组成,包含了16个参数测量通道用来测试芯片的16个引脚;以及多个辅助引脚,这些辅助引脚可以辅助Kelvin连接评估传输线阻抗和模拟总线交互功能。
图2 参数测试单元架构
这些测试通道由测量单元的第二部分:继电器阵列组控制。继电器除了对测试通道进行开关控制外,还能够控制该单元的功能操作和时序操作,对测试精度有很大的影响。同时,这些继电器具备可编程功能,能够根据用户需求适时更改。提高了整个测试系统的灵活性,有助于系统以后的升级。
最后是信号处理部分,这部分电路主要由高速16位DAC、ADC以及各种运算放大器、仪器放大器以及存储器构成,主要进行各种参数测试、存储和反馈。
2 高精度信号测量模块的实现
要实现高精度信号测量模块,必须具有高精度的DAC和ADC转换芯片,这里采用了TI公司的 DAC702和ADI公司的AD976来进行16位精度的信号输出和回采。测量模块原理如图3所示,测试单元搭配了5个千分之一精度的精密电阻:50Ω、 500Ω、50kΩ、500kΩ和5MΩ来划分不同的测试范围。为了保证足够的测试精度,本测量单元还专门划分JDQF和JDQS,使得整个测试系统具备 Kelvin连接要素,可以分别向DUT(待测单元)提供FORCE线、SENCE线、LOW FORCE和LOW SENCE线,具备了当负载为小电阻情况下进行精确测量的能力。
参数测试单元软件设计
1 通信协议
与传统测试仪不同,该测试仪采用了Altera系列的FPGA芯片作为主控制芯片,这意味着该测试系统无法借助MCU核自身的指令系统来简化整个系统的指令系统。本测试仪的内部指令,全部采用了自定义的指令系统,能够完整的对系统测试时的各个动作进行操作和切换,同时可以灵活地根据客户需要进行各种设计和改进,不会因为受限于MCU内核而出现系统瓶颈,在整个设计中具备了非常强的自主知识产权。
图3 测量模块原理图
整个测试仪是基于PLX9054芯片进行的32位数据的PCI通信。为了协同整个测试系统控制,参数测试单元的控制设备采用了32位PCI 数据中的24位作为内部总线来控制各种测试动作,实现控制状态的转换。整个数据流如图4所示,每个数据包包含了24位数据,其中高8位定义为地址码,用来解释整个系统的各种操作,包含了数字和模拟参数测试的各个动作。低16位为测试数据位,用来传输测试必须的各种数据。
其中,参数测量的指令包含了 FVPMU加电压测量指令,该指令包含了5个命令地址:0011_1100、0011_1101、0011_1110、0011_1111、 0100_0000依次表示测量中选取采样电阻命令、加压命令、电流保护命令、上限电流和下限电流保护命令。此外参数测量指令还有类似的FIPMU加电流测量指令等各种测量指令。
收藏
分享
评分
回复
引用
订阅
TOP
返回列表
电商论坛
Pine A64
资料下载
方案分享
FAQ
行业应用
消费电子
便携式设备
医疗电子
汽车电子
工业控制
热门技术
智能可穿戴
3D打印
智能家居
综合设计
示波器技术
存储器
电子制造
计算机和外设
软件开发
分立器件
传感器技术
无源元件
资料共享
PCB综合技术
综合技术交流
EDA
MCU 单片机技术
ST MCU
Freescale MCU
NXP MCU
新唐 MCU
MIPS
X86
ARM
PowerPC
DSP技术
嵌入式技术
FPGA/CPLD可编程逻辑
模拟电路
数字电路
富士通半导体FRAM 铁电存储器“免费样片”使用心得
电源与功率管理
LED技术
测试测量
通信技术
3G
无线技术
微波在线
综合交流区
职场驿站
活动专区
在线座谈交流区
紧缺人才培训课程交流区
意见和建议