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如何测试瞬态响应

如何测试瞬态响应

电源产品的瞬态响应测试有多种测试方法。其中,有利用电子负载的动态测试功能来实现的方法。可是如何公司的电子负载没有这样的功能,或者还想实现某些特别的测试,那么也可以采用本文中描述的方法。该方法由我公司雨来科技技术部提供(http://www.yulai-tech.com)

l NMOS + PMOS inverter structure

PMOS NMOS 以反相器联结。信号发生器提供控制信号以控制NMOSPMOS的栅极。PMOS源接较高的电压,NMOS源接较低电压。电阻和电容用于优化瞬时波形:电阻R1改善电压过冲,两个电解电容C1C2用来过滤输出电压。

1 为实际原理图. U1 是一个双N & P-通道的场效应管。 2 AAT1146为例。设置为C1=2200uFC2=10UfR1=0.5Ω。测量条件是:Vin=3.6V~4.2VVout=1.8V, ILoad = 400mA。图2中, channel 1 Vin, Channel 2 Vout (AC).

1: NMOS+PMOS inverter structure

2: AAT1146 Line Transient Response using method 1

l Diode + NMOS structure

3 是另外另外一种测试原理图。图 4也是AAT1146的测量结果。 D1 D2 采用 EC21QS03L.C2 10uF 电解电容. 测量条件同上。

Figure 3: Diode+NMOS structure

Figure 4: AAT1146 Line Transient Response using method 2

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描述

C1

Electrolytic Cap 2200uF 16V

2200uF

C2

Electrolytic Cap 10uF 16V

10uF

R1

Res 0.5Ohm 5W

0.5 Ohm

注意:

评估板或测试板的VinGnd上的导线应够粗够短,焊接良好,以降低信号噪声。

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