世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品 光学, FilmTek, 仪器, 高精度, 薄膜

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世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司

可测参数：

1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um)

2）反射率R和透射率T

3）折射率n和吸收系数k

4）能带间隙

5）表面粗糙度和损伤度

6）成份和结晶程度

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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。

[此贴子已经被作者于2006-3-31 11:23:11编辑过]