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测试测量

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版块介绍: 电子制造与测试方面的技术等话题,文章

版主: snowli, Tony0716, pujing, Bazinga

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测试测量

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common   基于FPGA的915MHz射频读卡器设计 Bazinga 2015-7-1 0/641 Bazinga 2015-7-1 10:27
common   基于频谱分析仪二代身份证读卡器测量 Bazinga 2015-7-1 0/660 Bazinga 2015-7-1 10:26
common   RFID读卡器射频电路的研制 Bazinga 2015-7-1 0/566 Bazinga 2015-7-1 10:25
common   125K非接触ID卡读卡器设计 Bazinga 2015-7-1 0/781 Bazinga 2015-7-1 10:24
common   一种极具成本效益的磁卡读卡器设计 Bazinga 2015-7-1 0/670 Bazinga 2015-7-1 10:23
common   基于RFID与移动终端的SMAP的实现 Bazinga 2015-7-1 0/718 Bazinga 2015-7-1 10:22
common   一种RFID读取器自适应基频滤波器的设计 Bazinga 2015-7-1 0/568 Bazinga 2015-7-1 10:21
common   膝上型PC借助通用GPS RF前端实现软件基带处理 Bazinga 2015-7-1 0/567 Bazinga 2015-7-1 10:20
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common   平台化测试是应对下一代无线和射频挑战的最佳选择 Bazinga 2015-7-1 0/496 Bazinga 2015-7-1 10:18
common   杂讯/线性效能大突破 硅基RF撼动砷化镓技术 Bazinga 2015-7-1 0/485 Bazinga 2015-7-1 10:18
common   基于AS3992芯片的远距离RFID读写器设计 Bazinga 2015-7-1 0/451 Bazinga 2015-7-1 10:17
common   NFC主动和被动点对点通信参考设计 Bazinga 2015-7-1 0/538 Bazinga 2015-7-1 10:16
common   一种新颖的中心开孔单脉冲毫米波缝隙阵列天线的设计 Bazinga 2015-7-1 0/516 Bazinga 2015-7-1 10:16
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common   石墨烯墨水打印射频天线 Bazinga 2015-7-1 0/414 Bazinga 2015-7-1 10:13
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common   100MHz带宽的经济型矢量信号源新选择 Bazinga 2015-7-1 0/701 Bazinga 2015-7-1 10:11
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